
こんなお悩みありませんか?
| お客さまのお悩み |
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| メリット① | Image
半透明シリコンウエハ・透明マスクの位置を高精度に計測 半透明シリコンウエハや透明マスクは、 位置検出が難しい対象です。 形 K1Gは、こうした難検出ワークに対しても 高精度な位置計測を可能にする短波長レーザーの採用と、 独自アルゴリズムを搭載しています。 これにより、従来は安定検出が困難だったワークに対しても 高精度な位置計測を実現し、 位置合わせ精度の向上と装置性能の安定化に貢献します。 |
| メリット② | Image
XYθ計測とEtherCAT🄬通信に対応し、高度なアライメント制御を支援 形 K1G は、複数センサを組み合わせることで アライメント工程で求められるXYθ計測に対応可能です。 また、EtherCAT🄬通信 に対応しているため、 上位制御との高速なデータ連携を実現し、 高精度な位置計測結果を装置制御にスムーズに反映できます。 これにより、詳細なアライメント工程における位置決め精度の向上と 装置全体の制御性向上に貢献します。 |
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資料番号:CP-PC-2265